技术编号：5847971
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种光学非线性材料的测量装置，具体涉及一种基于相位物体单脉冲反射测量材料非线性的装置，属于非线性光子学材料和非线性光学信息处理领域。 背景技术随着光通信和光信息处理等领域技术的飞速发展，非线性光学材料的研究日益重要。光学逻辑、光学记忆、光三极管、光开关和相位复共轭等功能的实现主要依赖于非线性光学材料的研究进展。光学非线性测量技术是研究非线性光学材料的关键技术之一。 对于透过率较高的介质，常用的测量方法有Z扫描、4f系统相干成像技术、马赫-曾德...
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