技术编号：5848524
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种检测电流的方法及装置，特别是一种电流霍尔检 测装置。技术背景霍尔效应及霍尔器件霍尔效应是此专利的理论基础，当通有小电流的 半导体薄片置于磁场中时，半导体内的载流子受洛伦兹力的作用发生偏 转，使半导体两侧产生电势差，该电势差即为霍尔电压VH， VH与磁感应强度B及控制电流IC成正比，经过理论推算有式(1 )关系。VH= (RH/d) XB XIC (1 ) 式中B为磁感应强度；IC为控制电流；RH为霍尔系数；d为半导 体厚度。由式(1)...
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