技术编号：5851456
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种盲元检测方法，尤其涉及一种。背景技术由于红外探测器在制作过程中半导体材料的不一致，掩膜误差、缺陷、工艺等因素的影响，其信号输出幅值会出现不均匀现象，严重者就会出现文中所讲的盲元问题。由于这些不均匀性及盲元的存在，可能会使所获得的图像信号模糊不清、畸变，甚至使探测器失去探测能力，对于成本较高的焦平面阵列来说，若能通过非均匀校正使均匀性很差的探测器获得满意的校正结果，通过盲元检测和补偿剔除过亮或过暗的像元，提高红外焦平面阵列的成像质量，则具有很高...
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