技术编号：5851610
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型是关于研究有关半导体器件温度特性的测试技术，具体涉及一种可以直接 测定肖特基二极管的特征参数及其温度特性的测试仪。背景技术目前，肖特基二极管广泛应用在太阳能电池、各种探测器和传感器、微波器件和大规 模集成电路中。有关肖特基接触理论、实验研究方法、器件制作和应用一直受到人们广泛的重视。肖特基势垒器件的不断发展推动了界面物理和材料物理的深入研究，并在大功率、耐 高温、高速、低噪声器件的应用中取得了重大进展，准确地测量肖特基二极管势垒高度^>6、...
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