技术编号：5851926
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及辐射成像系统探测器，尤其涉及应用于X射线辐射成像系统中的 双能X射线闪烁探测器，本实用新型属于辐射检测。背景技术当X射线穿透被检物体之后，其能谱会发生变化，这些变化和被检物体的材料组 成有关，因而测量这些变化就能实现被检物体的材料识别。理论上直接测量X射线的能谱 是最理想的方案，但是这需要对X射线进行单光子测量，而辐射成像系统中使用的X射线光 子密度很高，因此需要探测器和电子学系统有极快的响应速度，比如测量108个光子/秒， 然而这按目前的测...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。