技术编号:5852122
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及测量设备领域,具体涉及X荧光光谱分析仪,特别是涉及一种具有双平晶固定元素道分光器的x荧光光谱分析仪。背景技术现有的波长色散多元素同时测定型X荧光光谱分析仪(简称同定型WDXRFS)中, 一般来说真空测量室的四周安装有多个固定元素道(简称元素道),每个元素道的特征X射 线经分光器分光后由探测器检测,产生的脉冲信号经放大器放大后,脉冲高度将按照一峰 形曲线分布,即称为该元素的特征X射线谱峰(简称元素谱峰)。仪器调试时必须仔细调节 谱峰峰位,并使谱...
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