技术编号：5852554
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及颗粒材料计算力学和本构模拟。背景技术Gillott (1970)以及 Yoshinaka 与 Kazama (1973)用 X 光进行测量。Morgenstern和Tchalenko (1967)采用了光学的方法来研究粘土的颗粒朝向。Kanatani (1984)发现了张量形式的扭剪密度函数。Kuo和Frost (1996，1997)，Kuo等(1998)以及Jang和Frost (1999, 2000)基于立体测量学结合图像分析技术，提供了一种...
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