技术编号：5853251
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种位移测试装置，尤其是涉及一种二维位移测试装置。背景技术测试物体在一平面上的位移时，至少需要测得该物体在两个坐标方向的位移值，位移的大小可以用该物体所在位置处的坐标值来表示。通常为了获得物体所在位置的两个坐标值， 一般采用的方法是在两个坐标方向上分别设置一位移传感器，分别来测试物体在这两个方向上的位移的大小，从而测得物体最终所在位置的坐标值，从而得出物体的位移的大小。在两个坐标方向上分别设置位移传感器会带来很多的缺点，因为采用两个传感器，从...
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