技术编号:5855923
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及无损探伤检测,特别是涉及一种红外热波技术,利用对数一阶微分峰值时间测量被测试件厚度或者缺陷深度的方法。背景技术脉冲红外热波无损检测技术是二十世纪九十年代后发展起来的一种无损检测技术。此方法以热波理论为理论依据,通过主动对被检测物体施加脉冲热激励、并采用红外热像仪连续观察和记录物体表面的温场变化,并通过现代计算机技术及图像信息处理技术进行时序热波信号的探测、采集、数据处理和分析,以实现对物体内部缺陷或损伤的定量诊断。缺陷深度或者被测件厚度测量是脉冲...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。