技术编号：5856866
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及集成电路，特别涉及集成电路芯片测试，具体是指一种集成电路芯片测试平台上并行/交叉走线转换结构。 背景技术随着社会的不断进步，科技的不断发展，各行各业中越来越多地使用集成电路，集 成电路工业已经成为现代电子工业中一个非常重要的领域。而其中最为重要的技术，除了 设计、制造之外，就是测试和封装工艺，尤其是对于数字基带芯片来说，在早期开发时期，通 常会设计硬件测试平台来对芯片进行各种测试和验证。 由于芯片本身尚不成熟，外管脚定义会在不同的阶段发生一定...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。