技术编号:5858781
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种基于光场均匀性传递的平行光场强度均匀性的认定系统。背景技术平行光场是光学系统中最基本的一种光场,其强度均匀性(用调制度和对比度表 示)是一项重要指标,尤其对强激光系统,由于工作在大能量状态,光场在系统中传输时, 若出现调制,局部光场强度增大,将导致光学元件损伤,引起系统破坏或工作失效,因此精 确测量平行光场的强度均匀性、进而对其造成的影响进行评估和预防是高功率激光系统必 须要解决的问题。 —般而言,对光场强度进行测量需要采用光电传感器,例...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。