技术编号:5860343
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于热学测量,具体涉及一种利用椭偏仪测量纳米材料熔点的方法。背景技术精确测量纳米尺度下材料的熔点是研究纳米材料性质的重要技术。例如在制造纳米信息器件的工艺中,当材料的尺寸小到纳米尺度时,其热学性质会发生明显的变化,而这种变化将直接影响器件的温度稳定性。传统的测量纳米材料熔点的方法主要有两种,一种是透射电子显微镜,通过观察透射电子的衍射图样,根据图样的改变来判断纳米材料的熔点,但是这种方法不能实时快速的测量,而且制样比较麻烦;另一种方法是热量计,通过测...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。