技术编号:5860358
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种。背景技术折射率及厚度是光学材料的重要物理参数之一,也是影响光学系统性能的重要因素。折射率及厚度测量的应用领域包括光学元件的设计和加工,食品、医药、化工等行业的成分检测和产品鉴定,薄膜检测,晶体材料研制,环境监测以及珠宝鉴定等。对一些要求较高的仪器系统,精确测量折射率及厚度也有着迫切的需求。目前的折射率测量方法主要包括最小偏向角法、全内反射法及干涉法。然而,传统的折射率测量方法虽经过不断的改进,但仍然具有局限性,例如最小偏向角法,要获得高的折...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。