技术编号:5861419
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及,可作为原子磁强计、原子自旋陀螺仪等仪器设备中对光偏振微小转角的精密测量装置及方法,同时还可用于磁光晶体维尔德系数等参数的精密测量。背景技术基于Sagnac效应的光纤陀螺仪利用两束光相位差变化引起光学干涉信号的变化实现对载体转动信号的精密测量。目前光纤陀螺仪大都采用压电陶瓷光纤相位调制器对光的相位进行调制,由载体转动引起的两束光的相移通过锁相放大器模块进行提取,从而得到载体的转动信号,即,利用光学干涉通过调制光的相位来检测光相位的变化。最近兴起的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。