技术编号:5864110
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请的发明涉及密度不均匀实验材料解析方法及其装置和系统。更详细地说,本申请的发明涉及能够简单并且高精度地解析密度不均匀实验材料内的颗粒状物的面内方向的分布状态的新的密度不均匀实验材料解析方法、密度不均匀实验材料解析装置和密度不均匀实验材料解析系统。背景技术 由本申请发明的发明者提出了使用X射线解析多孔膜等密度不均匀实验材料内的颗粒直径分布的方法(参照特愿2001-088656),并受到了瞩目。该技术测量X射线的漫散射强度,根据该测量值解析颗粒直径分布,实...
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