测试装置及测试方法技术资料下载

技术编号:5865005

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本发明涉及测试被测试设备的。本申请与下述日本申请相 关,且主张来自下述日本申请的优先权。关于认可通过参照文献而编入的指定国,将下述申 请所记载的内容通过参照而编入本申请中,成为本申请的一部分。日本专利申请2008-211123申请日2008年8月19日背景技术对电子设备等被测试设备进行测试的测试装置,向被测试设备提供与被测试设备 的动作频率对应频率的测试信号,通过比较被测试设备的输出信号和预先确定的期望值信 号来实施被测试设备的测试。例如,专利文献1所述的...
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