技术编号:5865194
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及。本申请与下述日本专利申请相关、且主张下述日本专利申请的优先权。对于认可文献通过参照而被编入的指定国,下述专利申请中所记载的内容通过参照的方式而被结合到本申请中,成为本申请的一部分。1.特愿 2008-237414申请日 2008 年 9 月 17 日背景技术例如,专利文献1公开了一种测试装置,其包括基准时钟生成部,其生成具 有第1 频率的基准时钟;第1测试率生成部,其生成具有第1频率的大致整数倍的频率的第1测试率时钟;第2测试率生成部,其生成第...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。