技术编号：5866925
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于半导体集成电路测试分析设计领域，尤其涉及一种用于NVM(非易失 性存储器)测试中不同品种参数之间坐标的对应方法。背景技术在wafer (晶片)测试中，在不同prober (探针)之间通常是不同的品种参数，或者 应用于不同测试功能的品种参数时探针是不同的，因此测试坐标是不一致的。当在不同的 测试仪之间做相关性的时候，或者对wafer做工程分析的时候，都需要先确定不同品种参 数之间die (die是晶圆或硅片在封装前的单个单元的裸片)的坐标的对应关系...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。