技术编号:5867779
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于一种洁净度检测设备,特别是一种小型化、大流量、高信噪比、高粒径分辨率、高计数效率的全半导体尘埃粒子计数器的光学传感器。 背景技术随着人们对空气洁净度、材料纯度以及加工精度的要求不断提高,对微颗粒的测 量技术凸显的尤为重要。尘埃粒子计数器就是光散射计数法测量颗粒粒径分布所用的主要 测量仪器。激光尘埃粒子计数器以Mie散射理论为基础,单颗粒在照明光束中产生的散射 光为直接测量对象,再根据颗粒散射光强度的差异分辨待测颗粒的粒度大小的测量仪器。 其中光学...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。