技术编号:5868195
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于检测平板显示器的探针单元,尤其是涉及能根据与平板显示器的基板上形成的电路图相关的温度和光的影响,测量电气特征的变化来检测平板显示器的探 针单元。背景技术如现有技术中公知的,现已大规模开发平板显示器将其作为阴极射线管的替代显 示器。这种平板显示器典型地包括液晶显示器(LCD),等离子显示面板(PDP),场致发射显 示器(FED),真空管荧光显示器(VFD)等。这种平板显示器通常是由以下一系列步骤制成的,所述步骤包括制造上下基板的 步骤,将上下基...
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