技术编号：5868287
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种检测装置，尤其涉及主从式检测装置，将待测物与检测主机分离， 减少外在环境对待测物的干扰。背景技术电子产品的质量不断地提升，使得电子产品的使用的时间增加，为了确保电子产品的高稳定度，对于电子产品的检验规格更加严格。电子产品内许多小零件实际上是工作于高频高电流、高频高压、甚至是高温的环境下。由本检测装置提供高于实际常态的工作条件，使得待测物加速老化以验证其耐受力或找出潜在缺陷。由于待测物例如变压器在崩溃前，会有微量放电的情形发生，因此检测装置使待...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
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