技术编号：5868940
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是有关于一种，特别有关于一种用于测试液晶显示面板 的。背景技术探针(Probe)是一种用于量测微小电子组件(举例来说，半导体组件或液晶显示 面板中的薄膜晶体管数组)电气特性的装置。如本所熟知者，一薄膜晶体管数组( ThinFilmTransistorArray, TFTArray)是具有复数条闸极线路以及讯号线路连接于复数个 测试垫(TestPad)，用以与一外部电子系统交换信号。该薄膜晶体管数组是对经由该些测试 垫被输入的电气信号进行处理，并且经由...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。