技术编号：5869441
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是有关于一种垂直式探针卡，特别是一种应用垂直式探针的垂直式探针卡。背景技术集成电路(IC)在应用前，需要经过测试来验证其功能的完整性。集成电路的测试大都在晶片封装前、封装后和在焊接在线路板后进行。在晶片上测试集成电路的步骤大致上包含利用探针卡(Probe Card)接触集成电路上的焊垫、从探针卡输入电信号到集成电路、接收集成电路输出的电信号。集成电路输出的电信号为对输入信号的响应，输入探针卡和集成电路的电信号一般由信号发生器(例如自动测试机)所产生。...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。