技术编号：5870652
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明通常涉及自动测试设备，并且更具体地，涉及自动测试设备中的时间测量。背景技术 通常在半导体芯片制造过程的多个阶段中使用自动测试设备(ATE)来测试该芯片。为了确定芯片是否正确地运行，了解芯片响应不同的激励信号而产生的信号值是重要的。除了该值以外，了解这些信号是否发生于所期望的时间常常是重要的。因此，ATE传统地包括定时脉冲发生电路，该电路控制激励信号施加的时间和执行测量的时间。传统的数字逻辑芯片包括由主时钟信号同步的电路。在测试数字逻辑芯片中，时间常常...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。