技术编号：5870728
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片设计领域，特别是涉及一种能够实现芯片功能故障快速调试定位的方法。本发明涉及该方法中的调试电路。背景技术半导体工艺水平的发展使得集成电路(IC)集成度的进一步提高成为可能。电子工业已经从大规模集成电路时代迈进了超大规模集成电路时代。随着深亚微米工艺技术的成熟，芯片设计业面临着严峻的问题由于芯片功能和性能的需求发展，芯片规模越来越大，工作速度越来越高，开发周期越来越长，设计成本越来越高，设计质量越来越难于控制， 芯片生产后出现的设计和生产问题概率...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。