技术编号:5870925
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于进行半导体集成电路元件等各种电子部件(以下,也代表性地称为IC。)的电子部件试验装置,特别是涉及减少误接触的电子部件试验装置。背景技术 在称为处理机(Handler)的电子部件试验装置中,把收容在托盘中的多个被试验IC传送到处理机内,使各个被试验IC与测试头电接触,在电子部件试验装置本体(以下,也称为试验机。)中进行试验。而且,如果结束试验则把各个被试验IC从测试头中退出,通过分别放置在与试验结果相对应的托盘中,进行优良品或者不良品的分类。在...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。