技术编号:5871090
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测量半导体器件参数的测量系统,属于电子测量。本发 明适用于科学研究和工业生产中有机半导体器件,如有机三极管、有机二极管等参数的测 量工作,也适用于相应无机半导体器件的测量。2.背景技术近年来有机半导体器件的研究得到了深入广泛的发展,一些器件如有机电致发光 器件已进入商业生产阶段,对有机半导体器件仍采用无机半导体器件的测量设备,有诸多 不方便,如输出电压不够等。3.发明内容本发明的目的是针对这种状况提供一种测量有机半导体器件电流电压曲线的仪 器...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。