技术编号:5871797
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于激光器测试领域,涉及一种半导体激光器远场测试装置,尤其是一种 激光器测试用双轴旋转扫描机构及激光器远场测试装置。背景技术半导体激光器又称激光二极管(LD)。具有体积小,效率高,能直接调制等特点。随 着其制造技术的不断提高,半导体激光器正向着增加功率、提高可靠性、降低光谱宽度、提 高亮度和无铟化方向发展。半导体激光器制造技术的发展也推动了其测试测量技术的不断 进步。多年来,国内外多家单位在半导体激光器参数测试都做了大量工作。其中,国外有美 国的Ke...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。