技术编号：5871971
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明有关于一种测试板，尤指一种利用至少两种板体所构成的测试板。 背景技术在半导体领域中，不论是IC或芯片的半导体测试，在制造过程中的不同阶段都是必须的，而每一个IC在晶圆与构装型态都必须经过测试以确保其功能，而随着芯片功能的复杂化，精确的测试需求也就更显重要。在实际应用上，电性测试机台上装设有一测试治具，以用于固定测试板，此时，电性测试机台可利用下压的固定装置顶抵于该测试板上表面，以利用固定装置与测试治具固定测试板的位置，换言之，当固定装置下压于测试板并...
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