技术编号：5872156
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及荧光分析用光学分波检测器和具有所述检测器的荧光检测系统。 背景技术为了检测如微孔、微化学芯片或微毛细管等微小区域中存在的痕量物质，通常使 用诸如热透镜分光光度法和荧光光谱法等光学测定法。在荧光光谱法中，通过以预定波长的光照射样品，并测定该样品发出的荧光，就可 测定样品中含有的被测物质的浓度。对于用于所述荧光检测的系统，已经提出了构成如图 6所示的荧光检测系统(例如见日本特开2005-30830号公报)。在该荧光检测系统中，光源91发射的预定波长的...
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