技术编号:5877083
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测量装置,特别涉及一种高频电磁辐射测量装置。 背景技术按照各国电磁兼容(Electro-Magnetic Compatibility,EMC)指令要求,电子产品在进入该国市场销售前需要进行电磁干扰(Electromagneticlnterference,EMI)测试,只有符合该国EMC标准的产品才能在该国市场出售。因此,在电子产品研发阶段准确的找出超标的高频辐射源以对其进行抑制就显得尤为重要。发明内容鉴于以上内容,有必要提供一种可以准确定位高...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。