技术编号:5877176
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种缺陷检查装置和该缺陷检查装置所使用的缺陷检查方法,该缺 陷检查装置用于检测诸如光学膜等被测物体的缺陷。背景技术近几年,作为电视接收机和个人计算机(Personal Computer,PC)等显示装置,液晶显示装置非常受欢迎。该液晶显示装置使用多种光学膜之一用作偏光板的表面。上 述光学膜的主要示例是三醋酸纤维素(Tri-acetyl cellulose,TAC)膜。通常,诸如TAC膜 等光学膜是柔性的且容易被损坏。因此,如图13所示,通常在TA...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。