技术编号:5877422
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测距装置及其方法,更明确地说,涉及一种。背景技术在公知技术中,测距装置对待测物发射侦测光,并接收由待测物反射侦测光所产生的反射光。测距装置可借由量测侦测光往返测距装置与待测物之间所需的时间,以推算测距装置与待测物之间的距离。然而,由于当待测物表面的反射率较低时,待测物所产生的反射光的能量较低,而使得测距装置易受到背景光(噪声)的影响,而产生较大的量测误差,造成使用者的不便。发明内容本发明提供一种可提高测距装置的信噪比的方法。该测距装置用来量测...
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