技术编号:5877585
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于借助X射线检验对象的材料缺陷的装置和方法。技术背景在工业制造中在无损的原料和材料检验中采用所谓的X线检验方法。在此检验 多种组件,这些组件例如包括电机、机器人组件、汽车部件和许多其它组件。在无损的 X线检验中通常将样本或检验对象置于向外屏蔽X射线的外壳中并且在那里利用X射线 照射。然后可以借助X射线分析夹杂物或缩孔、材料缺陷、内部的向外不可见的断裂和裂缝等。对对象的常规的X线拍摄提供对象的所谓的二维投影,该投影可以推断出X射 线在穿透对象...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。