技术编号：5877975
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光电检测领域，使用光学成像原理来检测待测物体相对位移的非接触 的位移检测装置。背景技术光电检测技术是一种非接触测量的高新技术，它以光信号为载体，以光电器件为 基础，通过对载有被测物体几何量或物理量的光信号进行检测、分析，而得到被测物体的几 何参数，即通过光电检测器件接收光信号并转换为电信号，由输入电路、放大滤波等检测电 路提取有用信息，再经A/D变换接口输入计算机运算、处理，最后显示或打印输出所需检测 物体的几何量或物理量等参数。本发明涉及光学、...
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