技术编号：5880280
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。用于X射线光谱分析的制样方法，涉及一种采用X射线荧光光谱法分析矿物等样品的组份时，制备标准样品和测试样品的方法。在进行X射线光谱分析时，要求分析样品具有光滑的表面，元素分布均匀。分析时，需要制备相应的标准样品，而且标准样品要与试样的物理形式保持一致，以保证分析结果的可靠性。制备样品是进行X射线光谱分析的重要环节。目前，国内外进行X射线光谱分析主要采用的样品制备方法有如下几种(1)合金块样法。即将金属和合金制成块样，对其表面进行抛光处理制得。(2)粉末压片法...
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