技术编号:5881475
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属一种原子发射光谱分析用多元素(多波长)同时检测原子发射光谱的装置背景技术当前,在原子发射光谱领域所用的仪器中,主要有电感耦合等离子体光谱仪和顺序扫描式微波等离子体炬光谱仪。商品化电感耦合等离子体光谱仪在经历了近30年的发展过程中,其技术已经非常成熟。仪器类型也非常完善,包括顺序扫描型、多通道型及全谱型等多种类型。然而,电感耦合等离子体光谱仪的购置及运转、维护费用都非常高昂。并不完全适合发展中国家、中小企业及高等院校使用。近年来商品化的微波等离子体炬...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。