技术编号:5881760
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种具有扫描功能的由触发器构成的扫描路径电路和包括所述扫描路径电路的半导体集成电路。背景技术 目前,设计出了具有超过2000000-3000000个门的电路规模的半导体集成电路,如果如此之多的逻辑电路全部被测试,则为进行测试所需的测试图形(pattern)的数量与时间是极大的。因此,进行了所谓的测试帮助设计。在测试帮助设计中,故障测试的策略在电路设计阶段被确定,并且测试电路被制作到半导体集成电路中,用于预测故障的原因,并且这样进行电路设计,使得故...
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