技术编号:5882172
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本公开涉及一种X射线测量设备,其使用从X射线源发射出的X射线来照射样 品,并且通过X射线检测器来检测透过样品的X射线的透射剂量。本公开提供一种X射线 测量设备,其中改进了用于调整来自X射线源的通量(辐射通量)的空间强度分布的挡板 (shield),以在减小射束硬化发生的同时抑制中心部分的通量强度。射束硬化在专利文献 1中被专门地公开。背景技术图6是示出了用于测量样品(诸如纸、膜、薄膜板等)的基本重量的设备的结构示 例的透视图。来自X射线源1的锥形光束X射线...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。