技术编号:5882176
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及物理测量,具体涉及一种长度测量的微纳米卡尺。 背景技术在工农业生产、国防建设以及科研工作中,人们需要对物体进行度量,如机械工业 生产中常用的游标卡尺、地理测绘上的红外测距仪等等,但传统的这些长度测量仪器和工 具,其测量精度只能达到毫米级,无法提高到微米级、纳米级,因此,不能满足迅速发展的工 农业生产,国防建设和科研工作对于计量精度的需求,束缚和制约科学技术的发展和应用, 成为国内外物理测量的一大技术难题。发明内容本发明所要解决的技术问题是解决上述...
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