一种电池片光致衰减测试系统的制作方法技术资料下载

技术编号:5886682

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本实用新型涉及太阳能硅电池片制造,特别涉及在生产过程中对太阳能 硅电池片光致衰减的测试。技术背景 晶体硅太阳能电池片是目前光伏市场的主流产品,由于晶体在生长过程中会引入 杂质,而对电池片的初期光照会导致其中的掺杂剂、氧及铁等杂质形成复合中心,从而使硅 片的寿命降低,引起电池转换效率下降,发生较大幅度的光致衰减。晶体硅太阳能电池片在 出厂前需要对其光致衰减进行测试,以确保电池片质量符合要求。传统的光致衰减试验,是把电池片放置在模拟光源或阳光下,曝晒一定时间(...
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