技术编号:5887362
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及受激荧光信号强度测量装置,特别涉及一种基于闭环方式的双激光共轭聚焦基因芯片扫描仪。背景技术 图1为普通双激光共轭聚焦基因芯片扫描仪的示意图。如图1所示,来自不同激光器(未画出)的激光束1照射至分色滤光片2上,由于分色滤光片2对激光束1具有很强的反射作用,因此大部分激光束1被反射至基因芯片3。基因芯片3在激光束1的照射下产生受激荧光4(图中以虚线表示),由于分色滤光片2对受激荧光4具有很强的透射作用,因此这些大部分受激荧光4将透射过分色滤光片2并由...
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