技术编号：5890708
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及基片的检查装置，特别涉及用肉眼检查液晶显示器(LCD)、等离子显示器(PDP)或类似部件的基片的缺陷的装置。背景技术 众所周知，在用于检查液晶显示器(LCD)、等离子显示器(PDP)、或类似部件的基片的装置中，有一种装置能够把宏观观察转变为微观观察。在宏观观察中，照明光线被直接投射到玻璃基片的表面上，并观察缺陷部位，例如裂纹或斑点。在微观观察中，把宏观观察中检查出的缺陷放大并且进行更精确的观察。在用于检验基片的现有技术的装置中，日本公开专利No....
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。