技术编号：5897205
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及封装芯片可靠性测试，尤其涉及一种样品定位装置。 背景技术超声波扫描成像(scanning acoustic tomography, SAT)技术作为一种无损探测技术，在封装引起的可靠性问题分析过程中起到了重要作用。利用超声波对传播介质的敏 感性，超声波扫描成像仪可用于探测封装芯片内部是否存在分层，空穴和裂纹，其中分 层是环境可靠性测试中最常出现的问题。使用超声波扫描成像仪探测封装芯片内部是否 存在分层时，首先借助穿透式扫描(T-scan)对封...
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