技术编号:5902509
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于信号处理领域,具体涉及一种内场天线测试系统信号传递建模和分析的方法。运用于天线参数测量中,可以很好的提高天线参数测量精度。背景技术天线是发射和接收电磁波的一个重要无线电设备,在不同的应用场合有着其严格的指标要求,因此精确测量必不可少。文献《天线测量手册》(国防工业出版社)介绍微波暗室可以为天线提供良好的测试平台,通过合理地布置吸波材料,不仅能避免外界电磁干扰的影响,还可以显著的降低室内背景反射电平,减小了环境因素对天线测试的影响,较好地模拟了自由...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。