技术编号：5905052
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及，可用于铸锭多晶硅片电池制备前的预分档，将缺陷密度高的电池片预先筛选出，该方法对硅片的定量分辨与最终产品电池片的效率有较好的符合关系。背景技术铸锭多晶太阳能电池目前已经占据硅太阳能电池60%以上份额。荧光光致发光作为半导体检测的常用手段，目前主要有荧光光致发光谱仪和荧光光致发光成像仪两种方式，但两种方法因其特点，在使用上存在一定限制1.荧光光致发光光谱仪主要针对半导体微区进行缺陷探测，得到的是材料0维的成分信息。无法对整张多晶硅片进行快速评价。2...
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