技术编号：5910033
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及无损探伤，尤其是一种组合式三-六轴三维探伤装置。 背景技术探伤定义为探测金属材料或部件内部的裂纹或缺陷的检测手段。常用的探伤方法有X光射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤、渗透探伤、涡流探伤、Y射线探伤、萤光探伤、着色探伤等方法。物理探伤就是不产生化学变化的情况下进行无损探伤。长期以来，曲面探伤一直是一个公认的难题。国产无损探伤设备的机械结构一直采用就事论事的专机方式，很多超声设备精度不足的方式通过软件粗略处理，不能适应任意曲面探伤，一直以在低端市...
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