技术编号:5911604
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及是一种基于相位测量的物体三维形貌测量系统。 技术背景现在许多工业领域需要检测物体三维形貌,其中包括产品质量控制、检测及逆向工程领域。目前大多数系统都采用双目光栅测量法进行测量,其工作原理为基于光学三角形原理,利用白色可见光透过物理光栅将一组光栅条纹投影到物体表面,因为光栅条纹在曲面上发生光学干涉,再利用两个数码相机将其拍摄下来,经过图像分析、计算,最后就可求出物体的3D点云数据,华中科技大学申请的专利“一种基于二维编码的三维形貌测量方法,申请...
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