技术编号：5912423
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型总体涉及分析仪器，具体地涉及X射线的衍射测量。背景技术X射线衍射测量(XRD)是一种用于研究物质的晶体结构的公知技术。在XRD中， 用单色X射线光束辐射样品，并且测量衍射峰的位置和强度。典型的散射角和散射强度依赖于待研究的样品的晶格面以及占据这些平面的原子。对于给定的波长和晶格面间距，当 X射线光束以满足布拉格条件的角度入射在晶格面上时，将观察到衍射峰。由于应力、固溶体或其他效应而引起的晶格面中的变形导致XRD谱中可观察的变化。XRD和其他技术一...
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