技术编号：5912738
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及集成电路的成品测试，尤其涉及测试位置的定位和集成电路测试数量及分选机的速度。背景技术集成电路IC分选机根据集成电路的测试结果将集成电路分类收集。在测试过程中，当一颗IC器件落入测试位，由测试位挡板定位IC器件，测试位感应器感应到有器件，夹紧气缸夹紧金手指，使金手指与IC器件的引脚充分接触，从而完成一颗IC器件的测试。这是现有集成电路分选机实现测试的一般方式，这种测试方式速度比较慢，小时产量低，效率低。发明内容针对已有技术的不足，本实用新型的目...
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